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高低溫四探針測(cè)試系統(tǒng)
一、高溫四探針儀器簡(jiǎn)介:
HCTZ-300 型四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器。
儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái)、四探針探頭、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果。
儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì)、裝配。具有功能選擇直觀、測(cè)量取數(shù)快、精度高、測(cè)量范圍寬、穩(wěn)定性好、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠、半導(dǎo)體器件廠、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試。

儀器優(yōu)點(diǎn);
偏差1/60,抗干擾性能提高300倍
16mm 大口徑三軸連接器 電流輸入端口采用大口徑三軸連接器,是將內(nèi)部屏蔽連接至 GUARD(COM) 線,外部屏蔽連接至 GROUND 的 3 層同軸設(shè)計(jì)。 兼顧抗干擾的穩(wěn)定性和高壓檢查時(shí)的**性。
HC浮動(dòng)電路與三軸連接器組合使用可有效增強(qiáng)對(duì)電源干擾或外來(lái)干擾的穩(wěn)定性(重復(fù)精度)大幅提升。普通的使用環(huán)境的偏差為0.007%(代表值)與以往機(jī)型相比減少至1/60,在摻雜50V突發(fā)干擾的條件下減少至1/300。
技術(shù)參數(shù)如下:
測(cè)量范圍 |
電阻率:10-5~105 ?.cm(可擴(kuò)展); 方塊電阻:10-4~106 ?/□(可擴(kuò)展); 電導(dǎo)率:10-5~105 s/cm; 電阻:10-5~105 ?;
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可測(cè)晶片直徑 |
140mmX150mm(配 S-2A 型測(cè)試臺(tái)); 200mmX200mm(配 S-2B 型測(cè)試臺(tái)); 400mmX500mm(配 S-2C 型測(cè)試臺(tái))
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恒流源
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電流量程分為 1μA、10μA、100μA、1mA、10mA、100mA 六檔,各檔電流連續(xù)可調(diào)
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數(shù)字電壓表
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量程及表示形式 000.00~199.99 mV; 分辨率:10μV; 輸入阻抗>1000M?; 精度:±0.1% ; 顯示:液晶屏;極性、超量程自動(dòng)顯示; |
四探針探頭基本指標(biāo)
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間距:1±0.01mm; 針間絕緣電阻:≥1000M?; 機(jī)械游移率:≤0.3%; 探針:碳化鎢或高速鋼 Ф0.5mm; 探針壓力:5~16 牛頓(總力)
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四探針探頭應(yīng)用參數(shù)
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(見(jiàn)探頭附帶的合格證)
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模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差 ( 按 JJG508-87 進(jìn)行)
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0.01?、0.1?、1?、10?、100?、1000?、10000?≤0.3%±1 字
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整機(jī)測(cè)量*大相對(duì)誤差
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(用硅標(biāo)樣片:0.01-180?.cm 測(cè)試) ≤±5% |
整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度
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≤3%
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測(cè)試模式
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可連接電腦測(cè)試也可不連接電腦測(cè)試。
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軟件功能(選配)
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軟件可記錄、保存、打印每一點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù),并統(tǒng)計(jì)分析測(cè)試數(shù)據(jù)*大值、 *小值、平均值、*大百分變化、平均百分變化、徑向不均勻度、并將數(shù)據(jù)生成直方圖,也可把測(cè)試數(shù)據(jù)輸出到 Excel 中,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。軟件還可選擇自動(dòng)測(cè)量功能,根據(jù)樣品電阻大小自動(dòng)選擇適合電流量程檔測(cè)試
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計(jì)算機(jī)通訊接口
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并口,高速并行采集數(shù)據(jù),連接電腦使用時(shí)采集數(shù)據(jù)到電腦的時(shí)間只需要 1.5 秒(在 10uA,0.1mA、1mA、10mA、100mA 量程檔時(shí))。
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標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境
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溫度:23±2℃; 相對(duì)濕度:≤65%; 無(wú)高頻干擾; 無(wú)強(qiáng)光直射;
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二、HCTZ-300 型四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)
HCTZ-300 型四探針軟件測(cè)試系統(tǒng)是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序,通過(guò)此測(cè)試程序輔助使用戶簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄、顯示出來(lái)。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到 Excel 中,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析。


