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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹:
多通道介電測(cè)試系統(tǒng)主要用于:多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用。光耦繼電器,高速又耐用、切換時(shí)間 1 ms、高速I(mǎi)/O 輸出控制?;?IM3570 與 ZC3001 組合的 10 通道交流阻抗測(cè)試系統(tǒng) (發(fā)揮寬頻帶、通道間誤差少的優(yōu)點(diǎn),與 LCR 多路測(cè)試軟件 CN040 組合,可用于多通道介電與電阻測(cè)量,也可適用于電子零件和傳感器的研究開(kāi)發(fā)。)華測(cè)多通道介電測(cè)試系統(tǒng)
詳情介紹:
多通道介電測(cè)試系統(tǒng)
型號(hào):HTDM-10
多通道介電測(cè)試系統(tǒng)主要用于:多通道電阻、介電測(cè)試等可搭載阻抗分析儀、高阻計(jì)使用光耦繼電器,高速又耐用、切換時(shí)間 1 ms、高速I/O 輸出控制。基于 IM3570 與 ZC3001 組合的 10 通道交流阻抗測(cè)試系統(tǒng) (發(fā)揮寬頻帶、通道間誤差少的優(yōu)點(diǎn),與 LCR 多路測(cè)試軟件 CN040 組合,可用于多通道介電與電阻測(cè)量,也可適用于電子零件和傳感器的研究開(kāi)發(fā)。)


