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產(chǎn)品詳情

  • 產(chǎn)品名稱：電子材料測量離子遷移評估系統(tǒng)

  • 產(chǎn)品型號：Huace
  • 產(chǎn)品廠商：華測
  • 產(chǎn)品價(jià)格：0
  • 折扣價(jià)格：0
  • 產(chǎn)品文檔：
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簡單介紹：
電子材料測量離子遷移評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時(shí)間的測試（1~1000小時(shí)可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。
詳情介紹：

電子材料測量離子遷移評估系統(tǒng)


產(chǎn)品簡介

離子遷移是指電路板上的金屬如銅、銀、錫等在一定條件下發(fā)生離子化并在電場作用下通過絕緣層向另一極遷移而導(dǎo)致絕緣性能下降。華測儀器絕緣電阻劣化（離子遷移）評估系統(tǒng)是一種信賴性試驗(yàn)設(shè)備。它通過在印刷電路板上施加固定的直流電壓，并經(jīng)過長時(shí)間的測試（1~1000小時(shí)可按需定制），觀察線路是否有瞬間短路的現(xiàn)象發(fā)生，并記錄電阻值的變化狀況，從而評估絕緣材料的劣化程度和離子遷移現(xiàn)象的影響。

測試軟件

產(chǎn)品參數(shù)

技術(shù)指標(biāo)
測量電壓:100 ~ 1500V（可定制）
測試通道:128通道（可定制至高960通道）
測試時(shí)長:可連續(xù)運(yùn)行1500小時(shí)
測試溫度:85℃（可定制）
測試濕度:85%（可定制）
測量范圍:1×10^5 ~ 1×10^15Ω
極化電壓:100 ~ 1500V（可定制）
掃描周期:至快2分鐘（128通道）
環(huán)境試驗(yàn)箱



應(yīng)用領(lǐng)域

電子材料：印BGA、CSP等精細(xì)節(jié)距IC封裝件；
封裝材料：助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹脂、導(dǎo)電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料；
有機(jī)半導(dǎo)體：PPV、NDI、OFETs、OSCs、OLEDs等；
電子元器件：電容、連接器等其他電子元器件及材料；
絕緣材料：各種絕緣材料的吸濕性特性評估。


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